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目前国内有什么好点的无功补偿方法啊

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发表于 2013-3-2 15:34:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)
  ?. `% g& h: T) A
) o" M' [+ L0 A' u3 A$ e, [
/ L/ }7 X( ]5 \& A一.        实验内容:: V6 h( r) o- T3 Y0 W
1.        形式试验:考虑只进行一相。
& t2 b4 @. N7 X6 E& ^. B7 k0 q1)        阀对地交流耐压试验, |: x% a' ~; w. y' E- O
2)        阀对地雷电冲击试验/ ?$ Y: a( R' n5 |4 ]) B' W) R
3)        阀端对地直流耐压试验
3 C  g; \6 f( @9 {4)        运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验)2 K. G9 Y0 r. i, p( E0 {
5)        温升试验
3 x4 `( `  U8 A- w因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;. v  t& M% Q5 k
2.        TCC装置性能测试:' I5 o  }9 w$ M  N
TCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。2 Q; X  G9 v2 ?  Y
1)        系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms) F* @- H5 Y! x1 V
根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。
1 ?; C. l/ P& A7 K8 o2)        镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。' r; c3 ?/ j2 n* L  m- t
3)        I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正)1 `& D; F- R* K! Q: l  M$ y
4)        参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。
$ |, q; y; k+ \2 _2 G7 f* h5)        调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);
+ U: B8 m7 ~( E6)        TCC装置各种保护动作及延时测试;; d4 R; d4 ~# V) |
7)        模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);& R- f" }; J9 Q! L/ p0 c
8)        手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;
1 H, W& f% d& f) n; X/ `1 B! `9)        手调换级有关电流,电压暂态波形测试;( g: s; ]4 a( b! ?
10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;. b1 T6 H: n& }) n) S
11)控制功能测试;6 V( U& r3 w1 g, e& M7 D! K
    a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。
( [/ N; N2 G& z7 Z$ D' y8 X0 R消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。3 p6 u3 M* w0 p' a0 z6 m
(2)其他控制功能:
" o, E: @6 X- q0 K! s9 w& Q4 _, w     a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;
6 O# M3 c; ]+ c6 c(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。! g( v% b) ]" g* N0 N; |/ P
二.实验内容的地点和实验方法;
# j. y6 a0 a, S' F1 {2 [9 P根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。4 O  z, H/ r) N6 \& h! W
送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。5 h# W$ V6 h5 Y0 m6 K
a)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。; J+ R; \2 ^1 t  Y
2
  [6 C% z0 z% ]2 c" f0 `9 f其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制
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发表于 2013-3-2 21:31:01 | 显示全部楼层
过来了解并且学习一下~~~~
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    发表于 2013-3-3 00:54:52 | 显示全部楼层
    TCC装置是关键
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