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目前国内有什么好点的无功补偿方法啊

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发表于 2013-3-2 15:34:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)( B0 G" |3 p7 @$ w- R) F  B
& _1 K2 Q* p* J" \8 d
/ f8 m  `# r' p& a% I6 b
一.        实验内容:
6 j! D# o* U: ~7 D5 j2 J1.        形式试验:考虑只进行一相。8 j+ u0 P5 u0 ~& J7 H  y- F, b
1)        阀对地交流耐压试验& R' \1 t  ^) c
2)        阀对地雷电冲击试验3 N* y4 ^# \( k' [" F: B( R4 Y
3)        阀端对地直流耐压试验
6 J% ]) w# Q5 P; l* {4)        运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验)- d" m4 Z5 ?  O9 |& ^7 e
5)        温升试验
) `" b$ @, e5 D9 q3 @) r7 a6 g因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;+ o, h$ {7 M6 T( }0 d% ?
2.        TCC装置性能测试:
3 y/ q! }/ @5 O% X0 ~TCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。
9 i. B& y, q- o7 H9 ?) h1)        系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms
0 v$ U7 |. W+ T根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。4 x9 F- [5 {* O2 B. ]
2)        镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。
3 b0 _5 x# X$ k& }4 @! x2 q3)        I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正)
2 x3 K: p. b; H- x5 \  A4)        参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。
- f! y2 e8 g* i) }: e+ A/ ?" q5)        调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);
  x9 O9 y3 M$ X+ {- x4 d+ e6)        TCC装置各种保护动作及延时测试;
/ n* I$ u# f8 S2 b7 z! x% n% t7)        模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);4 [3 [' `, @: ^4 _; D) j2 R
8)        手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;
- |, Z2 Y8 k* x9)        手调换级有关电流,电压暂态波形测试;+ g- Q+ c$ c7 n0 z
10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;" y( r( u; D: p: h% G2 h
11)控制功能测试;7 A8 `+ t8 T. W# @% H; ^
    a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。
, S/ V% B9 n/ b* u1 n消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。
2 _  b1 d$ `& D; A1 ](2)其他控制功能:
+ R! s3 i& Q. ]     a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;
* p. _! \( z; m: `% m% H, c* \(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。( m* a2 c. F0 O: s7 k8 L2 X( s$ d
二.实验内容的地点和实验方法;
/ c5 K0 g3 n3 E6 u6 ^# D根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。
! c5 Z! p5 I1 Q& h送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。
' s7 R# L9 T4 ha)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。9 j) n4 ]2 c: r( s: s; l
2
; O, L4 u3 t1 T5 p# x* O其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制
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发表于 2013-3-2 21:31:01 | 显示全部楼层
过来了解并且学习一下~~~~
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    发表于 2013-3-3 00:54:52 | 显示全部楼层
    TCC装置是关键
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