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目前国内有什么好点的无功补偿方法啊

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发表于 2013-3-2 15:34:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)" U9 c' T2 \  k  Z0 b

1 Y8 ?7 u5 }- O! v/ x4 ?. x% v
' Q" f5 X( B5 i* A5 v0 f5 H一.        实验内容:
- l8 w2 x9 t6 R* t: q3 P. d1.        形式试验:考虑只进行一相。
3 N4 B1 E4 E5 m7 m9 p  g( W  J1)        阀对地交流耐压试验
& Y* X" z" i- v2)        阀对地雷电冲击试验
1 ]8 \$ s! Z& V7 {3)        阀端对地直流耐压试验
% u% Z4 v  K/ [0 s1 z! u4)        运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验). \/ M6 w  D3 N! y4 x1 }) w
5)        温升试验( |* B. U1 V' A3 ?- u/ G
因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;, C8 A; ?( F) J2 U7 K
2.        TCC装置性能测试:+ S$ U& W: b- v3 _# U
TCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。  N0 }/ Q+ Z" O; l3 S( a
1)        系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms( F$ `; R& A$ v6 _9 c
根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。
8 S( c/ f' q8 v2)        镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。3 W3 k0 B0 o9 {: J1 P/ b( _/ t
3)        I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正)
7 h* w- N/ G' I4 \2 c1 J4)        参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。
' e( a! y+ o& N4 [5 }5)        调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);
, \- w, M: y# c' J5 E$ ^6)        TCC装置各种保护动作及延时测试;
" S# _) N0 v. H: A3 u' C7)        模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);# Z8 S' K6 Y. U' v3 h# K) Y
8)        手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;- o8 _6 \4 B3 t: {5 a* b
9)        手调换级有关电流,电压暂态波形测试;
2 p$ @, X# Y% p& v( Y10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;
4 B/ Y& W$ _: c11)控制功能测试;
: ^9 g0 N+ M, O    a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。9 D+ ]& F$ d( u, J
消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。
5 C$ X3 U& m; T2 X( g! b9 F1 _(2)其他控制功能:
1 }5 F( C( g0 {  t" n2 D     a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;
: t& [" H1 V% D# P, r: A(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。% x2 M4 f- \( C9 L
二.实验内容的地点和实验方法;" c1 N; ?8 \6 j1 }2 g( D
根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。. P- z; J/ w- ~
送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。, Y1 @. H1 r; {! z9 A4 b
a)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。
3 M/ n) j5 j: O+ A9 N/ M2
2 v2 x, r( H7 Q. \4 {: K其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制
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发表于 2013-3-2 21:31:01 | 显示全部楼层
过来了解并且学习一下~~~~
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    发表于 2013-3-3 00:54:52 | 显示全部楼层
    TCC装置是关键
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