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目前国内有什么好点的无功补偿方法啊

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发表于 2013-3-2 15:34:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)9 j. q2 |( z+ b# g% ?3 U

, D. X* ], H! `# `# f( o8 @  V8 J! M1 o' s7 _) t! K1 v
一.        实验内容:3 c5 n) d3 V( V; C* x- T* N
1.        形式试验:考虑只进行一相。1 t  p2 p4 V8 S/ R
1)        阀对地交流耐压试验# e6 {/ n6 m3 H. E
2)        阀对地雷电冲击试验- {+ j( q9 S3 {/ M( U
3)        阀端对地直流耐压试验
1 t/ G7 A$ H5 a% I" k4)        运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验)
; [3 S0 H7 @/ U( K4 y5)        温升试验
( R( B2 A' t6 `( o8 F+ C" r" P0 w因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;
$ v4 _- I2 O  z3 m2.        TCC装置性能测试:2 r9 J  z6 Z7 b
TCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。
( F% w2 ?) W3 v2 ]( T. e% g8 [1)        系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms. B2 q9 G" D' J% {4 D9 ^4 m8 O
根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。
, w: v  `$ q' @: r4 G9 A( c9 H' V/ `2)        镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。8 e. y' h  J6 |6 H- ^3 y
3)        I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正)
6 d9 |6 m; e; r4)        参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。: N0 k! u. J1 y: J* l4 i( D
5)        调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);
+ d# i$ @" o- o0 M) E6)        TCC装置各种保护动作及延时测试;
7 ?: p1 J) z* c# l1 E# q7)        模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);
, t# ~7 f' T/ ]) v5 O8)        手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;6 ?! l* S2 o' `  Z2 J% ^
9)        手调换级有关电流,电压暂态波形测试;
7 P0 U; g3 c6 C5 D% m10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;& H$ W! j) d6 s4 m& ]6 H
11)控制功能测试;
: k9 ]- z2 d$ n* L    a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。1 K$ B5 f9 D3 x" h- u6 H
消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。6 m' Z  G8 O; r: `0 r# f$ k' M' c
(2)其他控制功能:' P* ~% T5 i7 v/ J6 G" k
     a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;% T2 G1 T" Q5 T6 j/ m, n
(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。
# S$ b/ |, L0 C. G. {二.实验内容的地点和实验方法;
8 n, D* K, W1 w根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。8 G* `! O' \3 j( A* r
送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。
3 f1 \* k* @" S' O- }a)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。" i! v0 M1 v/ l; o  _- W& j
2 + O0 ^& L7 g( e3 w; `
其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制
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发表于 2013-3-2 21:31:01 | 显示全部楼层
过来了解并且学习一下~~~~
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    发表于 2013-3-3 00:54:52 | 显示全部楼层
    TCC装置是关键
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