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目前国内有什么好点的无功补偿方法啊

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发表于 2013-3-2 15:34:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)0 w  ?9 M8 U3 e, t( {7 i: P# A
7 ^3 u, c4 f% C% r* F3 e; a
% t) k& C& h7 j- e
一.        实验内容:
7 \* z% Y+ J9 A9 v) m3 l9 M1.        形式试验:考虑只进行一相。
6 \0 N% A0 D! V1 o3 x: H& h1)        阀对地交流耐压试验/ K( f4 [! v* X
2)        阀对地雷电冲击试验
  N( ^. z: f7 y- c3)        阀端对地直流耐压试验$ G. a! Z9 \' P+ ]' ~9 d
4)        运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验)
& h9 |- r4 q0 \# N5)        温升试验) K1 b3 q( @  v) ~& T
因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;
3 o7 {7 g" {% _2.        TCC装置性能测试:2 ]0 O8 V5 V: Q, i: F9 e
TCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。; W  D3 g1 l" G* C& Z
1)        系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms
1 Y, d3 X, f% @% H0 |7 m! |根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。9 ^: I# M& U- Q# D" V
2)        镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。; Z# j" f8 p( X" R, a
3)        I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正)  p  e# y+ ^$ s. W2 \
4)        参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。9 d  _: r7 p7 S
5)        调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);
: `  t" a: t8 [& ~; R6)        TCC装置各种保护动作及延时测试;5 a$ q( }7 i1 j! c0 ]) b$ i% n
7)        模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);
+ p1 e) S4 N- h8)        手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;
9 Q$ Y1 }4 w, @( O% X$ y9)        手调换级有关电流,电压暂态波形测试;
0 `* K6 B* K/ A10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;# q# m3 P; K$ S5 j, d
11)控制功能测试;
! l' `: r& B6 m) K, ~5 F# N- Q- V    a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。
# V4 B$ k+ [! X$ \! D: p4 A消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。+ Z: B9 r( I( Z2 _
(2)其他控制功能:
; B6 S4 r  l; a: Z     a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;
8 I/ n+ R6 T; l0 s, p/ L(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。
# c  q, i# O- y二.实验内容的地点和实验方法;  R$ h' k4 s  S' D* j! j: }
根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。
7 _8 C5 F3 s. N) g; [7 B$ j% T& M1 H送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。
9 ]; ?: B4 f2 {+ d" Q) O" j: T2 ]a)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。8 Y8 X8 v$ u: |
2
( I% d5 I7 e* e: x8 ~. S其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制
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发表于 2013-3-2 21:31:01 | 显示全部楼层
过来了解并且学习一下~~~~
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    发表于 2013-3-3 00:54:52 | 显示全部楼层
    TCC装置是关键
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