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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 4 a% [/ N7 L$ a) p  s
* S4 D# i" h; v. D, B" J# O# F% j9 K
INPUT UP, UN                   //说明常数量
. l, [8 U1 z) a. g  R! _OUT CLOSE                      //说明常数量
# O: v/ y1 H( sDATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围
! ~2 h) m4 g# {  i, CVAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量* ]2 R8 d; N5 P/ h; ^9 f$ _
INIT   //对变量初始化
0 p) k/ B1 g; e/ YCLOSE:=0# W6 Y  _6 k2 i) J+ ~7 }* l; Z6 ]2 T+ Y4 m
  TT:=02 }& w6 I+ _4 c6 v; b
  FLASH:=INF //INF表示很大的数值0 R9 ?/ P( M! D
ENDINIT   //初始化变量结束# A9 U/ Q5 U/ k; S7 x5 u
EXEC     //程序开始标志
; v9 M7 l% B4 @8 I& w' zU:= ABS(UP-UN) //取绝对值$ F% Z/ [! L2 l0 F! `6 U
IF (U>UINIT) THEN 5 q+ m* {- [) j% s8 s
    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      0 k! n& _# U: q2 a6 Z  j
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))+ H' L, @, R+ H2 i! `% A
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           3 {- e4 P# O) s9 I5 L. s3 c7 Q
  ENDIFENDEXEC //IF结束
6 d$ R# Q: U8 r# CENDEXEC /程序结束
& `/ P) g( x4 q; SENDMODEL//model 结束
, d% r( F  c% z# X1 y3 B4 Q现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
4 z& P+ u% ]/ t! Q* m7 {还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
& p1 F4 ]  y  X% ~5 J1 u' r0 B还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
0 }4 V0 Z/ z/ k3 O; S请大牛说明一下
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?$ E/ v- }& ]# O' L4 {8 m

    8 i% D2 N/ z- a5 p. \4 O% f个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp % I* Q+ {# r. W( ~/ k5 K

    $ s) N* n6 s9 A. y那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    发表于 2011-9-4 19:37:24 | 显示全部楼层
    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛 " a' J% M; o$ R
    还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu
    & N  j3 U' ~; e& o" q7 o3 U# L) N5 I# U! [7 m6 q+ n! Q0 T2 x
    ' U- y! G9 g. ?  K# ?
        这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    5 \2 ~5 u9 n' y, AU:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差$ p3 V7 \  ~$ o* P3 G
    IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算/ B* z; a; d5 i" w7 m& }3 K4 {
    TT:=TT+timestep4 `2 R) Q7 R, D; ]
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
    & J! A, }6 v9 ]6 f# P( u5 TIF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF! G6 `: {6 s$ [9 }( q
    ENDIF/ {7 J( K& e3 c# R; d9 w
    一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
    / s% Q; p8 q( e" n0 ]1 z
    6 P6 C  T/ P0 Y; l% X原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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