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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 / o) E4 B9 C' G3 f

+ o; y5 X! H" uINPUT UP, UN                   //说明常数量
9 l: X; U! m" G- \' P7 lOUT CLOSE                      //说明常数量$ M, N5 O6 d% r5 [: z' j8 J4 g
DATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围$ H% b; K+ P! K  O$ C
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
9 _! Z6 q3 W% t4 E4 ~INIT   //对变量初始化
& m  ], v) l/ \! b& w- p" SCLOSE:=0  N; v9 p. R* r% F) H' A3 |8 N
  TT:=0
) T- Y! O# l& {% `  FLASH:=INF //INF表示很大的数值
/ Y6 B5 y! Q9 o# e, c, J$ i, TENDINIT   //初始化变量结束& E. c6 a9 r2 l/ ]" m
EXEC     //程序开始标志
) v& i0 x5 `# |# G# ]' PU:= ABS(UP-UN) //取绝对值
9 n( ?% [5 M! N3 AIF (U>UINIT) THEN ; u# o& j1 B0 U# Y5 {- `
    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                     
3 g$ X! l0 F8 g; _    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))! {0 Y* J2 N% F6 l" `" w
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           ( g, L# [8 W' K, P* V
  ENDIFENDEXEC //IF结束# }. N" {: ^; X3 H9 k! X4 |
ENDEXEC /程序结束
7 K9 b1 ^6 T/ ^6 H* FENDMODEL//model 结束: |  H7 _# A0 ^$ d0 {7 j
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
& n' o# S; w# }0 T还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
: u) C1 l' e4 v: y还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?# ^6 J( o/ S7 j2 U
请大牛说明一下
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    看不懂说的都是些什么。
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
    & }6 _# B8 h9 X, c, I2 n8 T- O% b1 }& O6 a* R: Y- U$ w
    个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp
    9 a  l7 N: o$ p6 \
    9 k5 h2 y7 s7 D; l9 \那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    发表于 2011-9-4 19:37:24 | 显示全部楼层
    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛 5 l3 g" @+ E- a7 O+ a
    还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    发表于 2012-5-1 10:13:41 | 显示全部楼层
    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu   j  r8 j! d% K1 @$ K

    + U: B7 ~* V5 B' f% X( U9 ?; B$ e4 k; K4 ]! q; R) s' W2 U
        这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    . |& i+ ]6 l, n" G) k; yU:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差5 m7 |3 t8 s0 E% T+ G' \& i
    IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算4 `0 \2 C8 j5 b# `
    TT:=TT+timestep6 X0 R1 z% R, B7 E+ g; J; U7 Z* G
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))! c6 V% ?; n9 a2 {5 B3 }! {7 A4 B* t
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF0 ?5 k& G" y, ~" N! k
    ENDIF
    . k1 q+ K8 c/ o+ G& r* o一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献) S$ r# K1 O& i; F+ D. F

    , f3 w! z+ L0 B6 y8 W" P原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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