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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑
/ G& b5 k' }  x. \) g  Y% G# Q
. W, i: V0 b* MINPUT UP, UN                   //说明常数量) q1 f  J9 F7 |! x, p# v. U3 E4 E
OUT CLOSE                      //说明常数量6 o# ?9 m! L7 c2 S3 ]
DATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围
  r. U" {8 e+ ]! r, X6 aVAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
! _6 V7 ^+ o8 e/ H  [6 F5 Q: S1 qINIT   //对变量初始化
2 l+ O3 M2 P  |. n0 R- ^9 tCLOSE:=0
& @7 F* ]9 C( Q1 x: h- j9 h  TT:=0
' O& K& R- \" T0 R  FLASH:=INF //INF表示很大的数值# y. z( N9 S0 q4 \  E
ENDINIT   //初始化变量结束- A2 U& L6 E0 x3 e0 j! o" j
EXEC     //程序开始标志+ X; L7 v' X& g! o0 w2 [
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值. [2 `4 X9 @) Q8 {2 O5 Y! `& Q
IF (U>UINIT) THEN
; B$ y; X7 G8 T2 _3 \    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      ( R8 {9 I: ]3 ^8 Q7 M
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
5 x- c/ ~: C/ C0 c3 r6 z    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           
4 g4 f4 A: R7 j4 u- n; ~! H  ENDIFENDEXEC //IF结束
; f7 s* x, e8 f2 `ENDEXEC /程序结束( [! X7 `& j1 Q% _! Q9 R' F
ENDMODEL//model 结束- g. @3 o4 f- Q8 ^
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?% _2 R7 z# Y( s. |+ K& z
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?- {- L( h! Z. ~4 z+ }
还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?: Q& y& ~6 W- K
请大牛说明一下
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    看不懂说的都是些什么。
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    谢谢了,学习中!
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?$ C5 o9 u) l* c1 i4 n9 V/ m* K) r
    ) T& J% ~$ D- R
    个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp
    3 V. ~' j& g, i* [) U% q5 w' K) m
    那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛
    / u; V# C9 h% n8 C3 I5 x; n还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    发表于 2012-5-1 10:13:41 | 显示全部楼层
    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu ( x3 M7 @' X" y# h: m' r

    1 l# a) {9 Y: c9 \6 t
    2 W- o( i0 w; \    这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    # p2 S$ D9 o% LU:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差' q8 k$ ^2 [  \
    IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算
    8 G- L' c8 _" s/ P- L& @/ l3 z* JTT:=TT+timestep
    # d, N6 z' I9 c  I, {FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))$ m9 r5 ~5 Y. ]$ N6 y' {  Y# o
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF4 Z' I& L0 a1 v4 D/ k
    ENDIF
    9 B7 h0 w5 e" F9 N; ^1 }: G: Y一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
    3 x# q3 ]( g8 K: \
    0 e4 f1 e  T; K4 Y6 t! M: v$ c% S原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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