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发表于 2010-12-31 07:27:11
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TEV的从基层的反应来看,是不太靠谱的。例如EA的说明书说一般高于10dB读数,就可认为是放电,但是大部分的变 ...
) @7 R7 ]- p+ j: v9 H" Wantliu 发表于 2010-11-13 00:34 . @1 R1 p' o, b7 f) L+ A( t
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TEV其实也不是不靠谱,只是判断比较复杂而已,说白了,TEV是基于电磁波技术的一种检测手段,也是一种非接触式的方法,非接触式的,就意味着传感器所接收到的信号不单单是来源于电力设备的内部了,可能外界干扰也会被接收进去,但如果是接触式的检测,那就要将传感器安装在电力设备内部了,这样有可能会影响设备的运行;而检测电磁波,又涉及到检测的带宽,局部放电说白了,就是电子的移动,局放因为不同类型,以及不同介质中的放电,所以其特性不一样,导至局放所产生的电磁波的带宽,也是不确定了,同样的,传感器的带宽也不好确定,如果传感器的带宽大太,那么,很多干扰信号会检测检测进来,但如果传感器带宽过小,那么,就会有些局部放电检测不到,所以选择一个合适的检测带宽是很重要的,这也是局放目前没有导则的原因。
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0 Y. H# D, ~; k# n0 }. U) t1 f0 y8 M其实干扰问题,利用时间差法的定位技术就可以解决了。
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高电压技术 第36卷第10期,《采用暂态对地电压法综合检测开关柜局部放电》,西交的这个论文不错! q$ [1 V3 _( l* m' o6 C. S* B5 ~
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局部放电检测的难点!!!!!. h# g& g1 Q8 F$ p: F1 I
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1、是否有局部放电
8 g) V+ a" f7 Q" Q( [1 o$ j8 Q" B2 E “TEV法”通来数值判断,“超声波”通过特征声音判断。
7 ]$ u9 ?% a8 `$ R2、检测过程中干扰的排除8 K; k1 i w( [( m$ L0 a, C1 X" j$ |
“TEV法”使用时间差法及外部天线判断信号的来源判断干扰信号, “超声波”通过特征声音判断干扰信号。
2 H* }+ G, n, v. |3、局部放电的位置! [! R/ s- E! J& h) H
“TEV法”使用时间差法判断局部放电的具体位置, “超声波”通过开关柜上的扫描检测判断局部放电的具体位置。 # f& T6 X5 `: {& k2 e) ]3 K2 G+ S
4、局部放电类型的判断
y0 O! q) Q b$ W3 @. f 通过检测局部放电发生的位置来判断设备内部可能的局部放电类型,“波型图”法是不可逆的。
7 P, o3 ] ^$ y8 S9 C, u4 b+ [5、局部放电严重程度的判断* h8 I f C x; q' j2 D' V
初步判断 ^6 I ^) Z" G4 G7 j t& ]
大量的检测数据的统计分析和趋势分析6 v1 w) v/ v; }2 @" ~; c. ~" D+ F
合理安排检修内容
* c- d' D- \/ J0 P! }) H, m( X# R不要忽略微小的故障 |
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