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发表于 2010-12-31 07:27:11
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TEV的从基层的反应来看，是不太靠谱的。例如EA的说明书说一般高于10dB读数，就可认为是放电，但是大部分的变 ...# b7 V7 I1 F, A5 T
antliu 发表于 2010-11-13 00:34
1 x0 F9 @5 W0 s# f$ CTEV其实也不是不靠谱，只是判断比较复杂而已，说白了，TEV是基于电磁波技术的一种检测手段，也是一种非接触式的方法，非接触式的，就意味着传感器所接收到的信号不单单是来源于电力设备的内部了，可能外界干扰也会被接收进去，但如果是接触式的检测，那就要将传感器安装在电力设备内部了，这样有可能会影响设备的运行；而检测电磁波，又涉及到检测的带宽，局部放电说白了，就是电子的移动，局放因为不同类型，以及不同介质中的放电，所以其特性不一样，导至局放所产生的电磁波的带宽，也是不确定了，同样的，传感器的带宽也不好确定，如果传感器的带宽大太，那么，很多干扰信号会检测检测进来，但如果传感器带宽过小，那么，就会有些局部放电检测不到，所以选择一个合适的检测带宽是很重要的，这也是局放目前没有导则的原因。
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% k4 H2 j' i$ D6 d1 y8 k& r* G2 p其实干扰问题，利用时间差法的定位技术就可以解决了。
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高电压技术 第３６卷第１０期，《采用暂态对地电压法综合检测开关柜局部放电》，西交的这个论文不错7 B' h% E5 \6 s' j
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局部放电检测的难点！！！！！) E, J, P0 ^6 H3 \
* r* S: b6 `% s+ d, [$ c) K1、是否有局部放电
' M8 U4 Y- e: ^; U8 e# h8 V. a6 m “TEV法”通来数值判断，“超声波”通过特征声音判断。$ L. C- J$ U* b$ w! ~- x; j
2、检测过程中干扰的排除
; @" R4 I& ~5 ?0 b6 Y# Z “TEV法”使用时间差法及外部天线判断信号的来源判断干扰信号， “超声波”通过特征声音判断干扰信号。
E/ k b, o P9 |( W7 V; V3、局部放电的位置
$ ^$ p8 k* i8 V1 I& d “TEV法”使用时间差法判断局部放电的具体位置， “超声波”通过开关柜上的扫描检测判断局部放电的具体位置。
) h; N" [8 X' _. N- Q# a% Z4、局部放电类型的判断
( l' {9 F8 a; K- x 通过检测局部放电发生的位置来判断设备内部可能的局部放电类型，“波型图”法是不可逆的。
4 B4 Z U% b q1 A' e, }5、局部放电严重程度的判断+ b( S: |8 ]6 f( ^7 f4 j: |6 j3 `; z
初步判断
5 W7 \) t1 }3 T: o& R8 s大量的检测数据的统计分析和趋势分析' c/ a6 v8 _9 x: d! v2 Q7 x
合理安排检修内容# k! v5 s: w" L" t; [6 E
不要忽略微小的故障 |
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