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[讨论] 问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 " i8 u1 C# N  X$ a: Z3 p; ^
( q2 e% m0 F. g, m3 e. Z/ U; K- \
INPUT UP, UN                   //说明常数量8 S9 Y) x8 q4 y3 _- b
OUT CLOSE                      //说明常数量
" e+ h5 {  L8 qDATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围- @3 O4 C  r& G; H" m
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
- x4 U0 S: O8 b. S( a% hINIT   //对变量初始化- z. g% D  A, A+ g, j: t. K/ a
CLOSE:=0" o: t0 ^( e" g, s, u% ]4 d( o
  TT:=0* ]/ X/ k2 q$ W1 v0 H4 o
  FLASH:=INF //INF表示很大的数值& T1 @+ `9 A+ q  k) c& |
ENDINIT   //初始化变量结束
% d3 I& V# o( {# N5 z5 n3 t( n$ dEXEC     //程序开始标志0 h& N& I) r6 b
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值) i6 `) a2 a& _5 v! a; [* e
IF (U>UINIT) THEN
5 x& f% \) ~9 Z$ |8 g    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      - N) j) T0 e$ k. {/ \8 Y; K' v) \- b0 d
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))4 M! S+ t. d! f
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           " C5 i, X! ~3 v  v+ a, D7 [3 i
  ENDIFENDEXEC //IF结束
1 ?8 I+ M& @) ?* a9 M; ~+ gENDEXEC /程序结束' l; L9 h; k- i0 N/ `1 u
ENDMODEL//model 结束
: M$ [' i& N. _+ B/ g现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?7 G8 v1 J7 A$ H2 }- Y
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
, J7 i! F0 t8 B) s7 ]$ F还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
' B. ?  d/ q  m# \请大牛说明一下
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?. ?% P+ ?. ]( H
    ! |# o3 R3 _% M  H- P5 J1 a/ z
    个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp
    : q. i1 {" X) n3 M6 \2 {, S  U3 s) B& t5 u
    那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛   z/ R1 S/ X6 E) t# O" _& P
    还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu 3 P' \2 ~  ]' i8 R/ I+ L# V  o

    % G8 t& N9 Q( n6 r; z
    . n$ o; P- e. t  a    这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程4 R# j/ @( y2 p# O8 J& f
    U:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差, A7 Q3 g$ @1 `  n/ T% d! Y- }/ E
    IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算
    : B( ]2 V, J( e# yTT:=TT+timestep
    % ^0 A1 E: [1 R5 F- h9 rFLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
    0 z: V# s2 i& B' rIF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF2 Y* b  H8 s, ^' O0 y1 I
    ENDIF
    : u  t& z0 y8 P, a( N* G一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
    3 o/ P; r8 y4 l" h& }, ?
    7 ]3 X- W$ i7 ?/ Y+ Q9 b  M原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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    发表于 2012-8-22 22:53:51 | 显示全部楼层
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