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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 8 I" ~( H  ~. h+ R/ R# S) L% R) G

3 s, E4 d& B( E+ ^* X5 N& d4 x0 ?INPUT UP, UN                   //说明常数量8 f9 E1 ?' F! ]2 o% ~
OUT CLOSE                      //说明常数量
( B5 P5 c/ z0 b" a+ UDATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围! B+ J. g7 r: S+ C+ k1 M% S. U. s
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
! g* J% V; Q' J4 c9 dINIT   //对变量初始化
! s  l* P" S3 }  cCLOSE:=0  r0 h4 C: u& z* t
  TT:=0
  C( \, H. b  {  FLASH:=INF //INF表示很大的数值
$ S5 J: w4 s- x/ V% DENDINIT   //初始化变量结束
3 V4 v$ F: ?1 _; kEXEC     //程序开始标志8 E- s& J) E8 h% R" I, s% F
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值
9 B( H7 J5 u( C" |! f1 ZIF (U>UINIT) THEN
  }- ^: X5 T7 _% P2 J$ K    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      7 T* m( P  F9 d7 J3 y0 z7 {, ?. s
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
; a( B- _; e& P( y3 E) J    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           
. ^3 E. h$ C1 k5 ]! g0 f6 \3 c  ENDIFENDEXEC //IF结束" q- H9 H* j" l- V, p, Z1 T
ENDEXEC /程序结束; v) l  y. z' h0 ?4 ~$ F$ Q% f2 A
ENDMODEL//model 结束
, m0 A/ q! Z" G% f! H现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
. S2 h9 o. g9 n0 m6 V还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
: M) J% H" ^% F6 b0 K还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
9 i+ [+ B' g0 _$ E% r2 s# N0 q  J请大牛说明一下
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?0 B' s: c/ }6 E' M4 ?: j$ f

    " Z  P; ~) [" X5 J个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp & p' J: D5 O  {2 @

    % x: U- e7 p# Z3 \那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛 + D. k% W  N8 d  C1 t
    还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu
    , c0 U, o/ R2 l! w: \% X8 \5 k6 T( O( ~/ G# {2 f# ]7 m9 D8 g
      L7 Q) ]% g$ u2 Y* L4 ^- h0 W: I
        这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程& B0 \$ U# @* i" k2 k6 b
    U:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差
    * P4 C+ T- M2 {: F/ TIF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算' J/ C, b0 b1 e3 N' ^1 `) W
    TT:=TT+timestep% g) u4 l8 g: L" A: U$ a
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))" L) u# e9 O/ t5 |3 r3 w
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF% V1 ]0 S& v1 C; ^6 e) o0 ^
    ENDIF
    % K4 R, r! G. M+ S. o( R" k" j; F7 K一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
    # y5 `# o$ F& R! E) E8 Q' E( B1 Z) ?7 f) Z' j
    原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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