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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑
* p2 w6 J1 q( a# \+ t# a: `; J9 h& u4 c/ Y7 h% h- y2 n4 K
INPUT UP, UN                   //说明常数量
7 j% q7 N  [+ I. b3 F8 H6 O- ?OUT CLOSE                      //说明常数量, q, Y/ h- O3 k5 w+ t
DATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围9 _! ?0 s4 @+ M' F
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
$ `2 D4 ~& X! Z. ?" S* NINIT   //对变量初始化
8 V/ S6 L1 V, X7 Z  {* dCLOSE:=05 |0 z  Z* X8 g+ E
  TT:=0
% `+ L" O6 X5 a/ G" \( ?$ f  FLASH:=INF //INF表示很大的数值  m* [, S7 Q* ~& \5 M; b
ENDINIT   //初始化变量结束
3 Y1 F: K/ A% r- Z5 J" V4 bEXEC     //程序开始标志, W" m; e9 @- q3 K$ x, G9 O
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值
5 w: r+ v4 Z  a6 l5 QIF (U>UINIT) THEN
# \$ q% T/ x4 ~9 h! `    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      6 y7 f4 M- h# U" [8 v( D' M
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))4 T! U2 v5 s+ b, I
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           % h( O: m! g& G/ Z1 V( [
  ENDIFENDEXEC //IF结束
, f5 A& }; S5 Q0 z$ y9 r# Y8 LENDEXEC /程序结束0 V' d- K2 t2 `4 s3 |
ENDMODEL//model 结束+ ]% e6 ^, B1 P. F4 S; w
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?# C$ P* g) y4 E' z
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
  j  t5 C) Q% O/ P! H1 s# u! w$ l还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
; Z) ^( r1 Z+ ?) _( K. j/ W请大牛说明一下
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?( u# p/ I/ ?7 L# v" W# U
    ; i, @8 ?$ ^8 ~( O/ \1 R  Y
    个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp 6 a1 Q8 i. r8 A$ D

    7 a' A. ?+ ?! _那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛
    3 L* @3 D1 j& p: n还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    发表于 2012-5-1 10:13:41 | 显示全部楼层
    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu
    ' ~: b, {& W7 y. @, r4 ^7 E3 Z9 X7 k5 u8 D, c: D/ q

    0 Q+ b% {5 c. z$ D1 @    这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    & n. ?5 X3 H* j9 x1 c( P% ~U:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差
    ( u' R, z' V0 {. s( DIF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算3 j$ D. L1 |2 N" s2 g4 N
    TT:=TT+timestep, V8 l2 W0 @) Y7 c3 S! H5 @
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
    ( s- W0 U' |% M, uIF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF
    ! V; f; e! ^- U6 K3 A9 w" KENDIF- j) r% @: n6 V* S0 T) |$ N# w
    一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献. g  x; F# O- D' ^& J1 t) |' Q8 K
    , p9 ]' p: R, k+ o& L- @+ z
    原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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