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[讨论] 问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 ) L9 y7 I+ q  c: I% l

' k& J: C$ I  gINPUT UP, UN                   //说明常数量1 ^0 D2 z0 G) F' Y# x6 l
OUT CLOSE                      //说明常数量
8 _% m" b1 E6 y) @& L* P! A( W3 oDATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围$ j: O' h- N4 L3 c8 ~
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
9 n% G. o) x3 f/ C/ U+ {7 s3 iINIT   //对变量初始化
! F; S% U9 M, x( z5 r0 kCLOSE:=0
+ i: V6 v. N5 d0 n  TT:=0
3 G" N) z; m' g! n" G" l  FLASH:=INF //INF表示很大的数值
! F0 r9 k& T% L, \' lENDINIT   //初始化变量结束
0 @6 e7 W' W- N& S% KEXEC     //程序开始标志
! Y7 E/ Q+ N1 cU:= ABS(UP-UN) //取绝对值
. T, I3 o* q, ~; `2 G# B  |) J& l9 ZIF (U>UINIT) THEN ! j  [% V; v; l+ l5 p% Y
    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      0 A4 n# j' x: N7 G
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
% F5 u6 M3 L% s/ X  Q    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           
9 m! g" U: v+ l* E& X. b% o. \  ENDIFENDEXEC //IF结束
. x, b) j2 j1 P4 d+ w& H4 UENDEXEC /程序结束! R% [9 d. y8 L( Q( [/ M& C; R
ENDMODEL//model 结束8 F' M, R2 L  y3 E" @
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?- `; E8 `, l- Z, S
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?# n( X: Y$ [/ ^' n4 R, q3 e
还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
( v; X, a( [# e( A1 J2 Y8 R, H请大牛说明一下
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    看不懂说的都是些什么。
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    谢谢了,学习中!
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
    ) [: s" x5 A( L# ^6 q
    , m, X3 L0 n3 f# }个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp * W5 k" y, k6 t) S. {

    & ?2 Y" S. i) x1 V那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛
    ; F$ }1 q. h$ w' x5 N4 N! ~还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    发表于 2012-5-1 10:13:41 | 显示全部楼层
    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu % c8 ~- z$ F* `2 {0 R

    7 U: U8 b' _+ r- |& _, U$ y% t# m" L# G' }6 D4 p: p
        这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    6 B0 Y2 {8 q7 I! d6 {5 D9 ^U:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差
    " J0 w* F5 B( o* bIF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算
    4 j, U  r3 T. t' H! G% aTT:=TT+timestep
    : g2 Z' n$ p" {0 f4 ?$ o, \8 W! rFLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
    # ^' ]6 ]9 f! D# K0 F$ O' vIF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF& D) z- d$ ^) t$ E3 t
    ENDIF, X) a( \8 K* r
    一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
      G$ k7 O* ]' z/ y, n" u5 P- y2 Q' r9 E* r& R6 _! Z
    原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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    发表于 2012-8-22 22:53:51 | 显示全部楼层
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