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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 * I1 e! @* y* E* |: ]) b2 {

/ e; j  r7 Y8 m9 yINPUT UP, UN                   //说明常数量* m: {& z  W  _: q5 U
OUT CLOSE                      //说明常数量
4 D8 E/ A4 F- mDATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围
$ S" t( W! d9 yVAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
* X" u; B# O/ [: bINIT   //对变量初始化
( o+ X5 v1 v+ D0 a  XCLOSE:=0
+ B# g9 C) Z- c( _  TT:=0
5 E6 ]  Q& I! ]* y, r$ E9 g: k; B  FLASH:=INF //INF表示很大的数值
) n- ^0 j% ~% U$ m3 zENDINIT   //初始化变量结束
. g7 z1 ~/ J( W: B; M  OEXEC     //程序开始标志; z5 o; t) J2 _: h: ~! F) g2 W* i
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值1 I5 U% M3 ]/ _. Z/ j
IF (U>UINIT) THEN
- Y* f- j4 o  p7 q    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      & U& X8 q% ]" ^/ i( p4 E. |0 F
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))+ |9 _' X3 @7 ]9 o' N1 h8 t
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           ! ]8 n" q( e; I& K3 m# P: d2 F
  ENDIFENDEXEC //IF结束) x; o2 F) L) Z9 M, d
ENDEXEC /程序结束
2 {+ M- V, c* F2 t" y2 H" HENDMODEL//model 结束
5 H" ?. h+ @, M" S' D0 B9 t* l4 b现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
) w9 h: _2 Y0 g' ?7 o还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
/ u$ ?; B* S( y还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
9 v7 [3 c7 W- a" \+ y' J. T请大牛说明一下
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
    " B' t! s0 q3 ?/ p
    2 i! ~5 T- I# H( d  L+ S个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp
    5 |+ O( H5 J$ u6 {( z/ j' Z- P& ?
    . R$ `7 S# v7 \6 U( K# e那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛
    ) z$ r: m1 n/ {2 A( M$ ]还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu / ?# G9 b+ K7 H+ Q, b2 F
    ! {( j! O* u( \& l& b9 c
    3 G+ x( P) ]5 S8 I
        这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    - f, j2 y4 B1 |4 WU:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差
    $ R: ~/ \/ `/ u6 HIF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算
    3 J+ x3 B# R$ v) f5 E8 NTT:=TT+timestep: ?/ \+ Y) l0 b9 a1 Q; {( _
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))% U: G6 `6 r; x# D5 ?& o
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF% p4 r! F) Z$ C  T: w
    ENDIF
    4 D1 g3 F& s: `# `5 G1 n一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献5 F( `9 ~2 d& l) F* L
    0 y5 K4 U) u& A" K% g8 d) x( H
    原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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