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[讨论] 问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑 & m4 X/ o" j; c  @* F% q  Q4 O

( d% H8 Z/ U$ r, D8 u' zINPUT UP, UN                   //说明常数量* R8 q3 b' a* A. i5 q# `5 m+ U( x
OUT CLOSE                      //说明常数量$ [& C1 O2 r& j
DATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围( _( R6 r4 j1 @" |
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
# y8 r' ^) J/ @* H' e) HINIT   //对变量初始化
7 A* J# y. l6 E, O- v$ _8 T9 qCLOSE:=0
6 F/ N: a+ x2 g# N  TT:=0
/ ?# D' z4 E6 W, C  FLASH:=INF //INF表示很大的数值
' x* x, S* J* B0 K6 K9 z* p3 eENDINIT   //初始化变量结束
4 ~% i% ?& z$ B0 b7 p7 JEXEC     //程序开始标志
. m- C, |4 d$ u6 _5 jU:= ABS(UP-UN) //取绝对值' o, h  D( h7 J8 k. k+ B
IF (U>UINIT) THEN 7 G$ ^) E+ v- I" u$ [+ b3 M
    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      ( l+ W7 }) b; l8 A' Z
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))2 M' U0 O% \) u' A; A
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           
  Z! E9 y& V  h% C' ^" x7 S: G7 B  ENDIFENDEXEC //IF结束
( C  r$ U+ U3 G4 oENDEXEC /程序结束
) X4 K* M% K. ~  N# Q* I- s$ ]ENDMODEL//model 结束5 k6 S; @3 o  t1 Y
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?! e' P1 s) E; C. d$ c8 z
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?! E" o/ y; I2 m$ t9 G
还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
; {6 N$ F* I' K9 s请大牛说明一下
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    看不懂说的都是些什么。
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    谢谢了,学习中!
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?2 z" W$ w& g. x$ U; h% x

    . Q# N! |3 V4 _个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp
    ) D: I* p0 p: g+ w$ j) T5 F$ j8 U: ~* A2 P. @: i$ j
    那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛
    : `, ?/ z" r' T0 X7 \. ?" r8 P还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    发表于 2012-5-1 10:13:41 | 显示全部楼层
    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu $ B" ]8 W( M6 u3 ^, v* k% c
    & R, [; k4 @& P# x1 k! D

    8 Y- m+ |0 k% h7 R    这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    % [. p5 _- d1 v+ G3 k# a5 m! ^U:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差2 ]. ?9 P! g+ A" Q7 b% o
    IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算
    ( W% K4 d6 q9 J! M% P/ ^TT:=TT+timestep
    7 H, X% u/ L* i  u9 J; q+ d0 MFLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))/ t+ v* i6 k: J& f" Z
    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF
    , O6 m) S) g6 z% l- K3 a* dENDIF9 q/ X7 |. F- f9 v
    一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
    1 i4 k! p0 a$ P& `' {, J1 m1 e, W' f, {8 o/ s/ K) H% @) t8 D3 T
    原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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