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问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题

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发表于 2010-11-27 21:24:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑
2 x* C3 L( r7 g( R# l0 i3 D' b* Q0 M9 a& k# J) p8 ?
INPUT UP, UN                   //说明常数量3 F0 K4 [4 q& ?: h6 J
OUT CLOSE                      //说明常数量/ ~7 ]# T& X2 W; Z; f. b
DATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围8 u  k/ w. o6 M* S$ r# \
VAR  CLOSE, TT, U, FLASH     //申请变量
8 N) n8 c5 X  _% F  l, I9 [+ w8 Z- lINIT   //对变量初始化$ W! h& h( Q6 T
CLOSE:=0
. P3 p% x+ O- P3 v  TT:=0+ {6 m( v; f+ i( a2 m% R7 `
  FLASH:=INF //INF表示很大的数值+ ]7 V6 F- d) P2 A6 y# \; w$ \1 V7 j: @
ENDINIT   //初始化变量结束4 r" V9 U: j( Z! w) B- `$ f
EXEC     //程序开始标志3 b* Q0 ]0 R% w7 Z# ]
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值( S$ o& H$ j! _3 T
IF (U>UINIT) THEN
7 C! N- \2 w" U! m/ L; a# b    TT:=TT+timestep  //时间相加,Timestep是系统时间间隔                      " Q8 c8 G2 S+ n& D, e4 Z% W: Z1 G7 w( h
    FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
) r8 Q0 Z' Y8 i+ ]& }    IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF           ! |! a/ W" Z# _
  ENDIFENDEXEC //IF结束
. K, K; w- _# sENDEXEC /程序结束
$ e& F) I# p" \8 Z( L' }4 ZENDMODEL//model 结束0 j0 g( o& x8 F0 ]" O3 ]
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?3 G/ {- {. h0 A: \# p
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
# f3 q# z8 l* f8 R8 z5 @6 L* G还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
; w5 n5 J. S. I- d$ D1 \6 V1 P请大牛说明一下
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     楼主| 发表于 2010-11-28 10:15:41 | 显示全部楼层
    只能请版主现身一下
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    发表于 2010-11-28 11:01:43 | 显示全部楼层
    回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?- u. x3 |- q* E( `! N; P
    5 G) y' F* O' @/ Q8 p/ S+ W. P
    个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。

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     楼主| 发表于 2010-11-28 17:10:40 | 显示全部楼层
    回复 3# xiaopingxp
    $ [9 ?: a2 Q8 V9 {3 b" ?* n$ t8 z. d2 I: X& q8 z( b
    那UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
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    LZ 还是不太懂啊  UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛 0 p4 L8 T  v, z, r  f
    还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么?
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    关注一下,版主很忙啊!
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    发表于 2012-5-1 10:42:42 | 显示全部楼层
    回复 5# weiyu % A% T; y' d+ }9 e& z
    8 D3 P8 v9 g5 x; n/ q

    # F# _. `5 @2 Y- S3 `8 W    这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
    # \9 b; n9 w3 s  J* p1 G; a9 yU:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差% D( H% }3 C& K+ j5 J' T% B- h
    IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算, j( G* q  W- `4 f1 z0 j
    TT:=TT+timestep
    1 W. G( r# ?4 ]1 j! h5 Q* U  _FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
    ) e. x& v0 m) c% M: QIF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF
    5 I; C' W& r: E2 b6 `! y6 MENDIF+ S+ I6 w+ X- c" ?! t6 I
    一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
    3 m+ f: z0 U3 g* J' E! A0 j5 a* ~& c+ F1 X* t4 @# C* A8 F* z
    原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7
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    发表于 2012-5-15 09:35:07 | 显示全部楼层
    你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢
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    发表于 2012-5-23 17:16:59 | 显示全部楼层
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    发表于 2012-8-22 22:53:51 | 显示全部楼层
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