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关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)( x j4 x- V6 Q6 j
! g7 D7 u) Z K7 k2 s
5 Z' F5 M* b6 m. I# q4 G; i" [
一. 实验内容:- W0 U! _7 f3 [& a: U. K
1. 形式试验:考虑只进行一相。
/ t3 @9 ~4 ?: a* J1) 阀对地交流耐压试验' y6 |% T0 M1 Q+ C' Q, A% h7 n. Y
2) 阀对地雷电冲击试验8 p/ T( J& Q. Q
3) 阀端对地直流耐压试验
' A @7 S* o8 o9 T4) 运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验)! M" M; C7 _$ n) p
5) 温升试验
6 o3 A" k5 g$ F1 o& A# W1 j因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;% V- W1 n1 f' q, n/ p" K8 }+ b
2. TCC装置性能测试:
$ X$ f3 W3 g1 P& G( S* tTCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。9 i8 K- V; r4 v, ^8 o+ m" M5 h3 S
1) 系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms
7 W' U% D% @* x根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。
# W* \( Y) O) b$ J2) 镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。! P2 \, e2 F" z9 c p! K2 `7 N
3) I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正), U! A, ]; B( v( M# \7 ~8 Q
4) 参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。
# d1 m9 M a& k" w/ W* n5) 调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);; B$ Y/ s, A/ n/ U, H {
6) TCC装置各种保护动作及延时测试;* A" e8 @( L6 ~7 t; A
7) 模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);' z0 S+ s0 k( s- Z9 w6 t
8) 手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;. Z6 D7 ^' ^5 I- ]- I, d' G
9) 手调换级有关电流,电压暂态波形测试;
7 j0 {% I* O N10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;' n, H `2 n2 d
11)控制功能测试;
6 L) D: l3 M! H/ G& \ a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。+ Z9 D# ~& R3 v6 V9 `: [
消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。
5 F# w0 V& J1 B$ u( @: T(2)其他控制功能:
! E9 U% o. U' t+ Q a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;
$ W6 F6 I0 Y6 q. m& q) e/ l$ T$ J(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。! i- U& v, K) e9 _7 g
二.实验内容的地点和实验方法;9 I: n/ c( Z; Q
根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。
! X+ U1 o/ m' {1 ]7 \8 u送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。
* T4 z" w. n% i/ Ra)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。
. x1 B- m. Y) S! I: N2 8 `+ k6 G' P5 I+ Z2 Q& z0 F
其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制 |
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