|
|
马上加入,结交更多好友,共享更多资料,让你轻松玩转电力研学社区!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?立即加入
×
关于晶闸管串联调压无功补偿装置(TCC)高压试验方案(初步意见)
0 T7 `' q7 c/ f, h* a' H- p1 z! i3 J. M) S% }7 b
& o7 R4 q; o9 l$ H4 Z; l) _4 k7 P
一. 实验内容:6 _8 C) s+ W6 q- R8 A/ A
1. 形式试验:考虑只进行一相。
# n- T8 j8 A% E, d* v$ C1) 阀对地交流耐压试验; S- ]. ]: M8 Z* |( F
2) 阀对地雷电冲击试验
- c% R' g! S( R8 R3) 阀端对地直流耐压试验# k0 i9 u2 C; s: a, a
4) 运行试验(包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验), u5 a' g/ c; T1 @
5) 温升试验% b: t( ]0 t- }" ]6 |7 t
因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式(二桥或者三桥)构成一个整体(不想TCR那样阀组分成两部分,中间串联电抗器,正常运行时,同相二阀承受线电压)故不需要阀端间的绝缘试验;
# f" V9 w$ L9 d. l0 i2. TCC装置性能测试:
0 V0 T3 p$ A, d4 j L" e5 A% R4 ~TCC装置的研发是定位在这样一个基点:技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征(响应快,冲击电流小,能快速频繁调节),其原理特征类似于纯TSC构成的SVC;通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好,比STATCOM造价更低,它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品,这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内(国外也不见文献)首先研发,其基本性能能否实现,都还存在风险,不可能首台样机就花大量投资,大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能(按现有控制系统的硬件设计)。
9 G" s2 n8 z" P2 g( o* T1) 系统响应时间:SVC一般为30ms~50ms
# i9 {6 J/ k$ _$ ^8 w3 d根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法,应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接,这可能影响系统响应时间。
0 i3 b% B% S# k* y2) 镇定时间:输入阶跃响应,SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到,但误差范围若为20级TCC装置可达到,但本实验TCC装置为7级,平均无功级差为12.5%,实现不了±5%。
6 B' n' {, i' [3 Z3) I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样,但是分级的,且I<0,Q<0.(规定态性为正)# M4 k+ P( j d6 b
4) 参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。" U% w' @& h: T+ X2 x1 ]( ~
5) 调差率Xl%=-5%~+5%(实现逆调压,恒调压或顺调压,可人为整定实现);
# M( ?2 c" z/ c( d6) TCC装置各种保护动作及延时测试;5 [/ g9 y% k0 t: s# {3 X" G4 ~
7) 模拟量采集,波形,精度(大小,相位,相序测试);' [1 Y, r6 i, O; J4 ^
8) 手调各级稳态系统参数(含调节范围)和稳态电流波形测试;5 P1 Y/ G, m9 \% i
9) 手调换级有关电流,电压暂态波形测试;
a" j5 o a8 B) w( C" o10)保护定值(指软件)和控制参数整定测试;
' h- ?. u3 X/ x; M! Y11)控制功能测试;
! _" ]3 |( o0 U( Z% t5 [8 d! _6 n a)恒无功功率调节(三相)b)COSφ调节;c)恒无功电流调节(可分相)d)按调差率XL%进行电压调节,以上四者均有调节死区。
. O7 j% _: H7 M, x0 \消除电压闪变,员序补(或称非对称补偿或称对称电压补偿)涉及比较复杂算法,本样机装置未考虑(按协议)。
$ A6 W1 N2 H; y6 l8 Q(2)其他控制功能:$ \/ M2 f0 D3 h* j7 m- ^
a)电压过高强降,电压过低补偿可实现,但测试有困难;. A' Q* L" L$ G4 @
(3)装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。; R2 { z; [ ?2 Y
二.实验内容的地点和实验方法;+ a+ G# ^( O# x: j( h+ V
根据初步分析,下列内容必须在电科院实验。
c: I! J8 E* u送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统,其余设备可不送。+ d3 R I, \$ h
a)交流耐压试验;b)雷电冲击试验;c)直流耐压试验;d)温升试验;e)低压状态静态试验;f)低压低触发试验;g)10KV运行试验的部分内容;h)压敏电阻同流测试;其试验方法基本和TCR差不多,但接线不一样,实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合,可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。# _; ~; x# I3 M0 z+ T
2
7 e1 k5 R3 ?9 q其余内容(包括低压状态的动态均压试验)都可以在中泉厂内试验。实验方法:低压状态的动态均压试验考虑问题较多,测试较复杂;系统响应时间测试需要修改控制 |
|