目前国内有什么好点的无功补偿方法啊

TJS121 · 发表于 2013-3-2 15:34:25

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关于晶闸管串联调压无功补偿装置（TCC）高压试验方案（初步意见）

一．实验内容：
1. 形式试验：考虑只进行一相。
1）阀对地交流耐压试验
2）阀对地雷电冲击试验
3）阀端对地直流耐压试验
4）运行试验（包括低压状态晶闸管静态均压和动态均压测试及10KV运行试验）
5）温升试验
因为一相TCC装置的晶闸管阀组是由多个晶闸管开关按桥接方式（二桥或者三桥）构成一个整体（不想TCR那样阀组分成两部分，中间串联电抗器，正常运行时，同相二阀承受线电压）故不需要阀端间的绝缘试验；
2. TCC装置性能测试：
TCC装置的研发是定位在这样一个基点：技术性能具有SVC型动态无功补偿装置的基本特征（响应快，冲击电流小，能快速频繁调节），其原理特征类似于纯TSC构成的SVC；通过反复比较分析。TCC装置要比现在的各型SVC经济性能好，比STATCOM造价更低，它属于动态无功补偿装置性价比比较高的一个大众产品，这就是我们研发TCC装置的出发点。由于本实验的TCC装置是国内（国外也不见文献）首先研发，其基本性能能否实现，都还存在风险，不可能首台样机就花大量投资，大量人力去实现SVC型动态无功补偿装置技术规范所需要的性能。本实验只是测试最基本的技术性能（按现有控制系统的硬件设计）。
1）系统响应时间：SVC一般为30ms~50ms
根据本装置控制响应时间约15ms计。改进数据采集处理算法，应该可达到。但主控系统和触发控制是通过通讯连接，这可能影响系统响应时间。
2）镇定时间：输入阶跃响应，SVC达到要求输出值±5%范围内的I间。其时间要求可能会达到，但误差范围若为20级TCC装置可达到，但本实验TCC装置为7级，平均无功级差为12.5%，实现不了±5%。
3） I(V)特性和Q(V)特性测试:可进行。应和SVC一样，但是分级的，且I<0,Q<0.(规定态性为正)
4）参考电压Ur%=(0.95~1.05)Un;可人为整定实现。
5）调差率Xl%=-5%～+5%(实现逆调压，恒调压或顺调压，可人为整定实现)；
6） TCC装置各种保护动作及延时测试；
7）模拟量采集，波形，精度（大小，相位，相序测试）；
8）手调各级稳态系统参数（含调节范围）和稳态电流波形测试；
9）手调换级有关电流，电压暂态波形测试；
10）保护定值(指软件)和控制参数整定测试；
11）控制功能测试；
a)恒无功功率调节（三相）b)COSφ调节；c)恒无功电流调节（可分相）d)按调差率XL%进行电压调节，以上四者均有调节死区。
消除电压闪变，员序补（或称非对称补偿或称对称电压补偿）涉及比较复杂算法，本样机装置未考虑（按协议）。
（2）其他控制功能：
a)电压过高强降，电压过低补偿可实现，但测试有困难；
（3）装置具有一定的基本监测功能和综自的通讯功能。
二．实验内容的地点和实验方法；
根据初步分析，下列内容必须在电科院实验。
送试设备只需一相晶闸管开关装置及所配的光电触发系统，其余设备可不送。
a)交流耐压试验；b)雷电冲击试验；c)直流耐压试验；d)温升试验；e)低压状态静态试验；f)低压低触发试验；g)10KV运行试验的部分内容；h)压敏电阻同流测试；其试验方法基本和TCR差不多，但接线不一样，实验细节不一样。f).g)两个试验内容需要触发控制板配合，可设计制作一个简单的手控触发控制板来代替控制保护屏。压敏电阻通流各量测试方法另定。
2
其余内容（包括低压状态的动态均压试验）都可以在中泉厂内试验。实验方法：低压状态的动态均压试验考虑问题较多，测试较复杂；系统响应时间测试需要修改控制

athuhu · 发表于 2013-3-2 21:31:01

过来了解并且学习一下~~~~

redplum · 发表于 2013-3-3 00:54:52

TCC装置是关键

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