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发表于 2010-12-31 07:27:11
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TEV的从基层的反应来看,是不太靠谱的。例如EA的说明书说一般高于10dB读数,就可认为是放电,但是大部分的变 ...1 ]9 t# E% n" l+ c
antliu 发表于 2010-11-13 00:34 * ] u+ q1 ]' p& M8 b
' z8 o# K& t aTEV其实也不是不靠谱,只是判断比较复杂而已,说白了,TEV是基于电磁波技术的一种检测手段,也是一种非接触式的方法,非接触式的,就意味着传感器所接收到的信号不单单是来源于电力设备的内部了,可能外界干扰也会被接收进去,但如果是接触式的检测,那就要将传感器安装在电力设备内部了,这样有可能会影响设备的运行;而检测电磁波,又涉及到检测的带宽,局部放电说白了,就是电子的移动,局放因为不同类型,以及不同介质中的放电,所以其特性不一样,导至局放所产生的电磁波的带宽,也是不确定了,同样的,传感器的带宽也不好确定,如果传感器的带宽大太,那么,很多干扰信号会检测检测进来,但如果传感器带宽过小,那么,就会有些局部放电检测不到,所以选择一个合适的检测带宽是很重要的,这也是局放目前没有导则的原因。
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& o1 i4 a* _! a3 A5 Q* Q* r其实干扰问题,利用时间差法的定位技术就可以解决了。
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高电压技术 第36卷第10期,《采用暂态对地电压法综合检测开关柜局部放电》,西交的这个论文不错- A& i" E; w) W# H& D
, d. r- L" X3 L [5 a' m3 a0 R- [) T局部放电检测的难点!!!!!( B! K0 h3 U, C' C
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1、是否有局部放电 ?6 {7 V* l! X3 e, g( H
“TEV法”通来数值判断,“超声波”通过特征声音判断。6 O4 e" t2 \* m% B7 v
2、检测过程中干扰的排除 _ g1 N$ W' q4 c0 b8 S- V, \
“TEV法”使用时间差法及外部天线判断信号的来源判断干扰信号, “超声波”通过特征声音判断干扰信号。
, P' G+ E+ I9 d7 j. L5 U3、局部放电的位置# s c1 r0 R9 _' B% [7 ]! O
“TEV法”使用时间差法判断局部放电的具体位置, “超声波”通过开关柜上的扫描检测判断局部放电的具体位置。 " V' X5 x, z& e2 i8 g
4、局部放电类型的判断/ ^) J, N# H1 w, w4 d1 \
通过检测局部放电发生的位置来判断设备内部可能的局部放电类型,“波型图”法是不可逆的。
0 Z" f y- G5 Z9 n5、局部放电严重程度的判断! J: q2 ~; J. ]! ]
初步判断
+ c5 D5 ]4 h% p( X7 }大量的检测数据的统计分析和趋势分析7 i9 ?# R5 Q! k8 j
合理安排检修内容
) Z( T6 a. x/ {# p不要忽略微小的故障 |
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