问大牛!例题9绝缘子闪络程序的一些问题
本帖最后由 ainiyzp 于 2010-11-27 21:28 编辑INPUT UP, UN //说明常数量
OUT CLOSE //说明常数量
DATA UINF {DFLT:650e3}, UO {DFLT: 1650e3}, TAU {DFLT:8.e-7}, UINIT {DFLT:1E5} /说明数据范围
VARCLOSE, TT, U, FLASH //申请变量
INIT //对变量初始化
CLOSE:=0
TT:=0
FLASH:=INF //INF表示很大的数值
ENDINIT //初始化变量结束
EXEC //程序开始标志
U:= ABS(UP-UN) //取绝对值
IF (U>UINIT) THEN
TT:=TT+timestep//时间相加,Timestep是系统时间间隔
FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF
ENDIFENDEXEC //IF结束
ENDEXEC /程序结束
ENDMODEL//model 结束
现在要问的问题是,程序每句能看懂,如后面的解释,但是程序整体的作用看不懂,如UINF,U0,TAU分别代表什么意思?
还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
还有例题9,怎么解决雷电波反射的问题,还是例题9就没有考虑这个问题?
请大牛说明一下 看不懂说的都是些什么。 谢谢了,学习中! 只能请版主现身一下 回复 1# ainiyzp 还有FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))这个表达式干什么用?FlASH是作用是什么?
个人完全觉得FLASH表示的是绝缘子串的伏秒特性,U为绝缘子串上作用电压,这里用相交法判断绝缘子是否闪络:绝缘子串上的过电压波与伏秒特性曲线相交,即发生闪络,不相交就不闪络。此为人为处理法,有误差,但美国及欧洲一些国家采用此法所得的结果和运行经验基本相符合,故相交法应用较多。 回复 3# xiaopingxp
那UINF,U0,TAU分别代表什么意思? LZ 还是不太懂啊UINF,U0,TAU,UINIT分别代表什么意思 还是没答案嘛
还有为什么U先和UINIT比较,再和FLASH比较呢,TT是什么? 关注一下,版主很忙啊! 回复 5# weiyu
这个在ATPdraw里的说明书已经有了介绍,见209页, Models的这个模型描述了气体击穿的动态过程
U:= ABS(UP-UN) ------------- 绝缘子上的电压差
IF (U>UINIT) THEN ----------- 如果压差超过了静态击穿电压,开始动态过程的计算
TT:=TT+timestep
FLASH:=(UINF + (UO-UINF)*(EXP(-TT/TAU)))
IF (U>FLASH) THEN CLOSE:=1 ENDIF
ENDIF
一旦动态过程累计值超过临界值,绝缘子即被击穿,具体这个公式应该能在高压电书籍里查到吧,当然描绘击穿的公式可能会有很多,需要查找相关的文献
原文链接:https://tech.cepsc.com/viewthread.php?tid=29011&highlight=%C9%C1%C2%E7 你好,我也正在研究绝缘子如何在过电压作用下闪络的模型,可以一起交流吗?谢谢 学习了 学习了
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