局部放电数据，缺陷模型—“金属颗粒”，用超高频和超声同时采集

frankhery 发表于 2010-5-23 20:45:08

songtong 发表于 2010-8-2 16:39:12

对于金属颗粒可能用超声测量效果更好一些，个人理解。

frankhery 发表于 2010-8-5 19:59:27

恩，超声对金属颗粒是比较敏感的。
同时用UHF和AE进行测试，可以对放电源进行定位。

ainiyzp 发表于 2010-8-24 19:33:14

最近也在做这一方面，可以请教吗？

chengangda 发表于 2010-11-8 11:02:10

这个怎么看不到

antliu 发表于 2010-11-13 00:26:06

示波器不错。

金属颗粒来说，超声比较敏感。这种类型的缺陷，超声和UHF一般都有反应

songtong 发表于 2011-2-25 17:01:32

用UHF定位来说还有些困难吧！

lovelysada 发表于 2012-5-15 09:47:25

流量不够，能否给我发一份，谢谢 mylovelysada@foxmail.com

njloong 发表于 2012-6-21 13:25:44

不够不够下载啊，方便的话，可以多交流交流呢。Q 971832047

zazuly 发表于 2013-11-6 15:37:58

我也在做这方面的内容学习一下

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